半導體晶片檢查中的使用示例

檢查姿勢正確

照亮廣闊的區域

更短的工作時(shí)間=更低的公用事業(yè)成本

• 照明范圍廣（最大可達φ400），因此無(wú)需移動(dòng)照明設備來(lái)匹配物體的尺寸。

提高質(zhì)量并減少投訴

• 由于冷卻機構采用散熱器機構，因此無(wú)需擔心冷卻風(fēng)扇對潔凈室造成污染。

縮短工作時(shí)間、降低勞動(dòng)力成本、應對人口老齡化

• 如果僅照亮身體的一部分，則患者在觀(guān)察時(shí)必須改變其位置，這會(huì )導致長(cháng)時(shí)間檢查時(shí)的疲勞。

• 如果照射面積不夠，則需要觀(guān)察技術(shù)，但如果照射整個(gè)表面，則不需要任何技能，任何人都可以以同樣的方式觀(guān)察。

實(shí)施后效果測量結果

檢查時(shí)間減少25%！返工和不良品的響應時(shí)間已減少到幾乎為0！