日本snk漂浮的細(xì)小顆粒檢查光源

產(chǎn)品型號： Parallel Eye D

所屬分類：光源

產(chǎn)品時間：2024-09-11

簡要描述：日本snk漂浮的細(xì)小顆粒檢查光源Parallel Eye D
*的多功能LED光源 不僅可以觀察漂浮的細(xì)顆粒，還可以觀察粘附在表面的細(xì)顆粒和污垢。

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日本snk漂浮的細(xì)小顆粒檢查光源Parallel Eye D

*的多功能LED光源 不僅可以觀察漂浮的細(xì)顆粒，還可以觀察粘附在表面的細(xì)顆粒和污垢。

[功能1]可以
從遠(yuǎn)程位置進行可視化

僅可視化的光源，可以到達(dá)很遠(yuǎn)的地方

盡管LED通常不適合可視化微粒，但我們已經(jīng)實現(xiàn)了通過精que的光學(xué)設(shè)計可視化微粒的z佳光源。
盡管通常不可能將光源靠近實際位置，但Parallel Eye D可以將光從幾米遠(yuǎn)的距離傳遞到可視化目標(biāo)空間。

[功能2]
高靈敏度可視化

熒光燈下懸浮微粒的可視化

通過根據(jù)高感光度相機的感光度特性進行設(shè)計，我們實現(xiàn)了傳統(tǒng)普通光源所沒有的感光度。與
于細(xì)顆?？梢暬某`敏相機“ Eyescope"結(jié)合使用時，即使在距光源幾米的距離處，也可以可視化微米級大小的細(xì)顆粒。
此外，如果使用了可選的濾鏡，即使在明亮的環(huán)境中進行可視化攝影，也可以在幾乎不降低感光度的情況下可視化顆粒。

[特征3]
也可以用作表面異物觀察光源

可視化表面附著的顆粒

通過與D-light相同的原理，只有粘附到表面的熒光粒子可以選擇性地可視化。可以通過熒光顏色的差異來識別物質(zhì)的類型。

[功能4]
實現(xiàn)低價的細(xì)顆?？梢暬到y(tǒng)

與圖像處理程序包結(jié)合使用時，可以觀察到懸浮顆粒和表面粘附顆粒的當(dāng)前狀態(tài)，并將其記錄在個人計算機上。與低功率激光器相比，高靈敏度的氣流和細(xì)顆粒可視化已成為可能，并且成本相對較低。

視覺可視化的z佳選擇“ Parallel Eye M"

<姐妹產(chǎn)品>
還有一種綠光類型，專門用于可視化粗顆粒和氣流示蹤劑。

日本snk漂浮的細(xì)小顆粒檢查光源Parallel Eye D

可視化系統(tǒng)配置的z佳解決方案

• 帶有小型CCD的圖像處理軟件包“ Particle Eye"，用于在PC上進行實時圖像處理和記錄

• 具有于微?？梢暬撵`敏度和功能的超高靈敏度相機是的超高靈敏度相機“ Eyescope"。

• 簡單的氣流速度分布測量軟件“ plus PIV"，可從氣流可視化圖像輕松獲得氣流速度分布

• “ D Light"，一種工具，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色

• “ D Scope"是一種工具，可以捕獲細(xì)顆粒的各種信息，并通過捕獲弱熒光將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)。

• 我們還提供現(xiàn)場評估服務(wù)，可使用細(xì)顆?？梢暬夹g(shù)和表面粘附的異物可視化技術(shù)分析異物的現(xiàn)狀和因素。?