日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)xDUORES

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：其他設(shè)備

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-07

簡(jiǎn)要描述：日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)xDUORES
易于攜帶和測(cè)量的手提式薄層電阻測(cè)量?jī)x：DUORES
根據(jù)測(cè)量目標(biāo)交換和使用兩種類型的探頭（無損探頭和接觸探頭）。

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日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)xDUORES

產(chǎn)品特點(diǎn)

易于攜帶和測(cè)量的手提式薄層電阻測(cè)量?jī)x：DUORES

根據(jù)測(cè)量目標(biāo)交換和使用兩種類型的探頭（無損探頭和接觸探頭）。

•世界上首ge可替換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）的便攜式座位電阻測(cè)量裝置 •
只需放置/敲擊探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量
•電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從xin數(shù)據(jù)顯示）

•存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示屏）
•測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
•顯示：3種類型的顯示單位（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮動(dòng)小數(shù)點(diǎn)（0.000到9999）

日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)xDUORES

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測(cè)量范圍內(nèi)測(cè)量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
•其他

測(cè)量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測(cè)量
（* 大于每個(gè)探頭的測(cè)量點(diǎn)尺寸）

<測(cè)量點(diǎn)>

?無損探棒（渦電流型）：φ25mm

?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米

測(cè)量范圍

?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探法）：0.1 -4000Ω/ sq

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